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200 $a: 电路分析基础考点分析及效果测试$A: Dian Lu Fen Xi Ji Chu Kao Dian Fen Xi Ji Xiao Guo Ce Shi$f: 丛书编委会编
210 $a: 哈尔滨$c: 哈尔滨工程大学出版社$d: 2003
215 $a: 180页$c: 图表$d: 26cm
225 $a: 新世纪闯关丛书
306 $a: 题名页出版者题:哈尔滨工程大学出版社、西北工业大学出版社。
320 $a: 本书第180页附有书目
410 $a: 新世纪闯关丛书
461 $a: 新世纪闯关丛书
606 $a: 电路分析$x: 研究生$x: 入学考试$x: 自学参考资料
690 $a: TM133$v: 4
711 $0: 2$a: 新世纪闯关丛书编委会$4: 编
801 $a: CN$b: XIPT$c: 20040520
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